Autor Wątek: [DYSK] Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.  (Przeczytany 4263 razy)

0 użytkowników i 1 Gość przegląda ten wątek.

Premislaus

  • SUSE User
  • *
  • Wiadomości: 61
Jest to niemożliwe - http://unix.stackexchange.com/questions/39064/smartctl-on-external-hdd-inside-ide-to-usb-enclosure - względem nazwy tematu. Wczoraj próbowałem, dzisiaj znalazłem informację. Trzymam backup na takim dysku. Inna rzecz, że mój kontroler na ogół nie działa od kopa. Muszę wypinać kable i podpinać na nowo do dysku, a najlepiej to trzymać go w ręce i go przechylać, bo inaczej tylko lekko cyka. Na Windowsie miałem ogromne problemy z jego zaskoczeniem, teraz jak podpiąłem na Linuksie to zaskoczył od razu. Wydaje mi się, że musi się rozgrzać, bowiem trzymam go w szafie i wydaje mi się, że to:

194 Temperature_Celsius     0x0002   064   047   000    Old_age   Always       -       36 (Min/Max 12/53)

Oznacza właśnie, że dysk nie może być zimny. Pomieszczenie w jakim przebywam jest bardzo chłodne. Na ogół jest tutaj między 10-20 stopni w zimie. To jest odczyt z dysku w laptopie, nie tym podpinanym przez adapter.

Pytanie czy jak kupię normalną kieszeń dla dysku 3,5", to SMART będzie działał? Widziałem jakąś za 100 zł od Nateca, u mnie w lokalnym sklepie. Za swój adapter dałem 20 zł na Allegro.

Jako, że wczoraj zgłosiłem błąd na bugliście to pomyślałem, że ją trochę przejrzę (często można dowiedzieć się więcej z opisów praktyki, niż to co stoi w dokumentacji i powinno działać zawsze tak samo) i znalazłem, dla mnie ciekawe, omówienie problemu związanego z automatycznym wyłączaniem dysków, bowiem zbyt częste może je uszkodzić - https://bugzilla.opensuse.org/show_bug.cgi?id=816388

Wtedy też postanowiłem, że wklepię kilka komend, by sprawdzić moje ustawienia i dysk, a długookresowo to interesuje mnie czy da się lekko przyśpieszyć działanie dysku 5400 RMP (I/O scheduler, jakieś funkcje w BTRFS i XFS, etc.). W porównaniu do Windowsa jest tutaj szybciej np. z generowaniem miniatur czy wchodzeniem do katalogów.

Wróćmy teraz do problemu z buglisty:

sudo hdparm -B /dev/sda

/dev/sda:
 APM_level      = 254

/dev/sda:
 APM_level      = 128

Pierwsze to jak laptop jest podpięty do zasilacza. Drugie to jak jest na baterii.  128 APM_level to za mało, wyczytałem w tamtym wątku z buglisty, że optymalna wartość to 192. Jako, że zazwyczaj laptopa podpinam do gniazdka, to bagatelizuję to teraz i nic nie zmieniłem.

Sprawdziłem SMART swojego dysku w laptopie, mam go jakoś od kwietnia 2013 r. (może trochę wcześniej):

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   100   100   051    Pre-fail  Always       -       1
  2 Throughput_Performance  0x0026   252   252   000    Old_age   Always       -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0023   091   091   025    Pre-fail  Always       -       2854
  4 Start_Stop_Count        0x0032   096   096   000    Old_age   Always       -       4649
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   252   252   010    Pre-fail  Always       -       0
  7 Seek_Error_Rate         0x002e   252   252   051    Old_age   Always       -       0
  8 Seek_Time_Performance   0x0024   252   252   015    Old_age   Offline      -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       20015
 10 Spin_Retry_Count        0x0032   252   252   051    Old_age   Always       -       0
 11 Calibration_Retry_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       365
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   096   096   000    Old_age   Always       -       4648
191 G-Sense_Error_Rate      0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       343
192 Power-Off_Retract_Count 0x0022   252   252   000    Old_age   Always       -       0
194 Temperature_Celsius     0x0002   063   047   000    Old_age   Always       -       37 (Min/Max 12/53)
195 Hardware_ECC_Recovered  0x003a   100   100   000    Old_age   Always       -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   252   252   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0036   200   200   000    Old_age   Always       -       0
200 Multi_Zone_Error_Rate   0x002a   100   100   000    Old_age   Always       -       19497
223 Load_Retry_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       365
225 Load_Cycle_Count        0x0032   037   037   000    Old_age   Always       -       638774

I tak chcę go za jakiś czas wymienić na SSD 128 GB i kupić kieszeń do laptopa i tam go wsadzić, zamiast DVD (nie czyta już płyt).

Pytanie czy na dyskach SSD muszę się martwić o Load_Cycle_Count, jak na HDD?

BTW na dysku podpinanym przez adapter trzymam głównie zdjęcia swojego dziecka, siostry z liceum, masę pdfów i nagrań z kamer. Jest tego ponad 150 GB. Ten adapter co mam, zgrywał to z prędkością średnio 35 MB/s, poprzez USB 2.0. Pomyślałem, że będę czasem korzystał z konsoli zamiast GUI, by wiedzieć co robić jak GUI padnie, może zapamiętam. Szukałem w internecie jak kopiować za pomocą konsoli i mieć jakiś progress bar. Użyłem komendy rsync. Trochę to wszystko trwało.
« Ostatnia zmiana: Luty 20, 2017, 08:08:14 pm wysłana przez Stefan »

unic0rn

  • SUSE Guru
  • ****
  • Wiadomości: 784
Odp: Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.
« Odpowiedź #1 dnia: Styczeń 10, 2017, 07:02:07 am »
przeciez oni tam pisza o kieszeni wlasnie. i nie jest tak, ze sie nie da - zalezy to od konkretnego sprzetu. albo dany usb bridge jest obslugiwany, albo nie. probowales - wymienionego tam zreszta - parametru -d?

jakbys nie zauwazyl, podlinkowali tam tez liste obslugiwanych urzadzen - niekompletna.
https://www.smartmontools.org/wiki/Supported_USB-Devices

przetestuj -d, zaczynajac od -d sat, na tym adapterze co masz (roznica technicznie miedzy adapterem a kieszenia jest zerowa). jak zadziala - super. jak nie - musialbys ostroznie wybierac kieszen/adapter, by kupic model ktory masz pewnosc ze zadziala.

mozesz tez rozwazyc zlozenie za jak najmniejsze pieniadze jakiegos sprzetu (z drugiej reki - potrzebna jakakolwiek obudowa, plyta glowna z procesorem i ram, no i zasilacz - calosc moze byc komicznie stara, byle byla obsluga sata i procesor dalo sie downclockowac dynamicznie pod linuxem by nie zarl pradu) i postawic sobie lokalny serwer na backup.

a co do dysku, jak ma problem wystartowac to dobrze mu nie wrozy, imho. przechylania dysku to nawet nie skomentuje.
« Ostatnia zmiana: Styczeń 10, 2017, 07:04:13 am wysłana przez unic0rn »
PGP:208DAF5448644C0B

Premislaus

  • SUSE User
  • *
  • Wiadomości: 61
Odp: Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.
« Odpowiedź #2 dnia: Styczeń 11, 2017, 05:57:51 am »
Dziękuję za odpowiedź.

To tak głupie, że aż śmieszne z mojej strony, że pomyślałem, że adapter a kieszeń to dwa różne, technicznie, urządzenia. Przecież i tak to wszystko robi kontroler :azn:.

Wklepałem - sudo smartctl --all -d sat -s on /dev/sdb, -s on jest potrzebne, by włączyć SMART. Potem już można bez -s on, z samym -d sat.
Dostałem:

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Seagate Barracuda 7200.11
Device Model:     ST3320613AS
Serial Number:    5SZ07KXN
LU WWN Device Id: 5 000c50 00e1a39b1
Firmware Version: SD2B
User Capacity:    320,071,851,520 bytes [320 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is:    Wed Jan 11 06:55:02 2017 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x82) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (  617) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x7b) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        Conveyance Self-test supported.                                                                                                 
                                        Selective Self-test supported.                                                                                                 
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  68) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
SCT capabilities:              (0x103b) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 10
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000f   118   099   006    Pre-fail  Always       -       176643742
  3 Spin_Up_Time            0x0003   097   097   000    Pre-fail  Always       -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0032   099   099   020    Old_age   Always       -       1186
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   036    Pre-fail  Always       -       0
  7 Seek_Error_Rate         0x000f   083   060   030    Pre-fail  Always       -       210988340
  9 Power_On_Hours          0x0032   076   076   000    Old_age   Always       -       21168
 10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   097    Pre-fail  Always       -       4
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   097   097   020    Old_age   Always       -       3107
184 End-to-End_Error        0x0032   100   100   099    Old_age   Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
188 Command_Timeout         0x0032   100   096   000    Old_age   Always       -       201866609524
189 High_Fly_Writes         0x003a   020   020   000    Old_age   Always       -       80
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0022   079   055   045    Old_age   Always       -       21 (Min/Max 19/21)
194 Temperature_Celsius     0x0022   021   045   000    Old_age   Always       -       21 (0 13 0 0 0)
195 Hardware_ECC_Recovered  0x001a   046   031   000    Old_age   Always       -       176643742
197 Current_Pending_Sector  0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0010   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   200   200   000    Old_age   Always       -       24

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     19748         -
# 2  Short offline       Completed without error       00%     15641         -
# 3  Short offline       Completed without error       00%     15635         -
# 4  Short offline       Aborted by host               90%     15624         -
# 5  Extended offline    Interrupted (host reset)      50%     15623         -
# 6  Short offline       Completed without error       00%     15617         -
# 7  Short offline       Completed without error       00%     15614         -
# 8  Short offline       Completed without error       00%      5423         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Wielkie dzięki. Tego -d sat nie zauważyłem, bowiem najpierw rzuciłem okiem, a potem przejechałem w dół i zacząłem czytać, że na tanich nie działa. A tyle w mediach mówią, żeby nie myśleć stereotypowo... Wielkie dzięki!

PS. Nie wiesz czemu na Windows, jak leży dysk płasko, to nie chce działać? Na Linuksie już dwa razy go włączałem i od razu zaskakiwał. Zasilacz wpinam do gniazdka, potem kabel USB z kontrolera. Wiem, że się tak nie powinno robić z dyskami, to o tym przechylaniu go, ale chyba mogą pracować pionowo i robiłem to powoli... Nie zmienia to faktu, że jest to dyletanckie.
« Ostatnia zmiana: Styczeń 11, 2017, 06:01:36 am wysłana przez Premislaus »

unic0rn

  • SUSE Guru
  • ****
  • Wiadomości: 784
Odp: Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.
« Odpowiedź #3 dnia: Styczeń 11, 2017, 10:43:45 am »
spojrz na udma crc error count. wymien kabel sata.
PGP:208DAF5448644C0B

Premislaus

  • SUSE User
  • *
  • Wiadomości: 61
Odp: Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.
« Odpowiedź #4 dnia: Styczeń 11, 2017, 10:49:58 am »
spojrz na udma crc error count. wymien kabel sata.

On jest właśnie nowy. Mam go może miesiąc. Problem w tym, że on nie ma zacisków - na wiosce takich kabli nie ma, ale jak będę robił większe zakupy na necie, to sobie taki kupię. Piszę o tym, bowiem zauważyłem, że on lekko ze złącza się wysuwa, pod własnym ciężarem. Może dlatego?

unic0rn

  • SUSE Guru
  • ****
  • Wiadomości: 784
Odp: Sprawdzanie SMART na dysku podpiętym poprzez adapter USB-SATA i APM dysków.
« Odpowiedź #5 dnia: Styczeń 11, 2017, 10:53:25 am »
calkiem prawdopodobne. ten blad oznacza problem z transmisja, czyli z reguly z kablem wlasnie.
PGP:208DAF5448644C0B